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二十二屆中國國際光電博覽會
日期：2025-08-28 09:30
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摘要：
Di 二十二屆中國國際光電博覽會將于2020年9月9-11日在深圳國際會展中心寶安新館舉辦， 值此光學盛會， TAYLOR
HOBSON攜光學元件檢測領域的新技術和新產品參展， 為您帶來多樣化、全系列的接觸式和非接觸式測量解決方案
精彩展品早知道
1 LUPHOScan 50 SL
世界上*快、*精que的非接觸式3D手機鏡頭測量系統
*手機鏡片測量的一次革ming
*快速完成光學表面和空間幾何特征測量
*可得到光學表面的真正3D面形誤差
2 Form Talysurf® PGI Freeform
*專門用于測量高精度自由曲面光學...
Di 二十二屆中國國際光電博覽會將于2020年9月9-11日在深圳國際會展中心寶安新館舉辦， 值此光學盛會， TAYLOR HOBSON攜光學元件檢測領域的新技術和新產品參展， 為您帶來多樣化、全系列的接觸式和非接觸式測量解決方案
精彩展品早知道
1 LUPHOScan 50 SL世界上*快、*精que的非接觸式3D手機鏡頭測量系統
*手機鏡片測量的一次革ming
*快速完成光學表面和空間幾何特征測量*可得到光學表面的真正3D面形誤差
2 Form Talysurf® PGI Freeform
*專門用于測量高精度自由曲面光學元件的全自動、快速、精que的測量系統
*采用柵形/徑向測量方式來獲得球面、非球面、衍射面和自由曲面的3D形貌
*全自動的測量方式和分析功能大大地節省了測量時間，包括自由曲面的批量測量
